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Versetzungsaktivität und Rissbildung in Verbindungshalbleitern
Projektleiter:
Projektbearbeiter:
Ingmar Ratschinski
Finanzierung:
Forschergruppen:

Die Bildung von Versetzungen und Rissen spielt eine entscheidende Rolle sowohl bei der Züchtung als auch bei der mechanischen Bearbeitung von Halbleiterkristallen. In dem beantragten Projekt werden Versetzungen und Risse in Galliumnitrid detailliert untersucht. Die Arbeiten erfolgen in Kooperation mit Freiberger Compound Materials (FCM), einem führenden Hersteller von Verbindungshalbleitern, der Galliumnitridkristalle für das Projekt zur Verfügung stellt. In dem Projekt werden Versetzungen und Risse durch Indentierungen in die Probenoberfläche erzeugt und mit verschiedenen mikroskopischen Methoden untersucht. Auf dieser Grundlage wird ein Modell für die Anordnung von Versetzungen und Rissen erstellt. Darüber hinaus sollen elementare Wechselwirkungen zwischen Versetzungen und Rissen aufgeklärt werden. Die gewonnenen Erkenntnisse sollen auch dazu eingesetzt werden, die mechanische Bearbeitungsprozesse von Galliumnitridkristallen, wie z.B. Sägen oder Schleifen, zu optimieren.
Geräte im Projekt
Kooperationen im Projekt
Anmerkungen
Schlagworte:
cathodoluminescence, cracks, dislocations, gallium arsenide, gallium nitride, sources
cathodoluminescence, cracks, dislocations, gallium arsenide, gallium nitride, sources
Kontakt

PD Dr. Hartmut Leipner
Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg
Naturwissenschaftliche Fakultät II
Interdisziplinäres Zentrum für Materialwissenschaften
Heinrich-Damerow-Str. 4
06120
Halle (Saale)
Tel.:+49 345 5528473
Fax:+49 345 5527390
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