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Zerstörungsfreie Dickenmessung elektrisch nichtleitender Schichten
Projektleiter:
Projektbearbeiter:
Dipl.-Ing. (FH) Thomas Beller
Finanzierung:

Zur Dickenmessung elektrisch isolierender Schichten, frei tragend oder auf einem Grundmaterial aufgebracht, wird diese Schicht mit einer Mikrowelle bestrahlt. Das reflektrierte Signal wird nach Betrag und Phase ausgewertet.
Eine Spezialisierung ist die Wanddickenmessung von Glasbehältern unter Produktionsbedingungen. Das Messverfahren ist berührungslos, Abstandsschwankungen zwischen Glasoberfläche und Sensor haben keinen Einfluss auf das Messergebnis.
Eine zweite Spezialisierung ist die Lackdickenmessung auf kohlefaserverstärktem Kunststoff (CFK). Die Messung ist berührend, aber zerstörungsfrei. Das bekannte wirbelstrombasierte Dickenmessverfahren von Lack auf Metall wird hierbei auf das nur halbwegs leitende Material CFK übertragen.
Eine Spezialisierung ist die Wanddickenmessung von Glasbehältern unter Produktionsbedingungen. Das Messverfahren ist berührungslos, Abstandsschwankungen zwischen Glasoberfläche und Sensor haben keinen Einfluss auf das Messergebnis.
Eine zweite Spezialisierung ist die Lackdickenmessung auf kohlefaserverstärktem Kunststoff (CFK). Die Messung ist berührend, aber zerstörungsfrei. Das bekannte wirbelstrombasierte Dickenmessverfahren von Lack auf Metall wird hierbei auf das nur halbwegs leitende Material CFK übertragen.
Anmerkungen
Schlagworte:
Schichtdickenmessung, zerstörungsfreie Prüfung
Schichtdickenmessung, zerstörungsfreie Prüfung
Kontakt

Prof. Dr.-Ing. Johann Hinken
HS Magdeburg-Stendal
Fachbereich Ingenieurwissenschaften und Industriedesign
Institut für Elektrotechnik
Breitscheidstr. 17
39114
Magdeburg
Tel.:+49 391 50389431
Fax:+49 391 50389439
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