JEOL JSM-IT100 „InTouchScope“
Von-Danckelmann-Platz 3
06120 Halle (Saale)
Tel.:+49 345 5525320
Fax:+49 345 5527034
« Infrastruktur: Geräte
Gerätebeschreibung
Hochauflösendes RasterelektronenmikroskopGeräteausstattung einschließlich folgender Ausstattungsmerkmale:
• Vergrößerungsbereich: 5 x - 300.000 x
• Beschleunigungsspannung 0.5 - 20 kV (optional bis 30kV)
• Wolframhaarnadel-Kathode (vorjustiert)
• Sekundärelektronen-Detektor
• Konische Objektivlinse
• Garantierte Auflösung im SE-Bild
- 4 nm bei 20 kV (3 nm bei 30 kV)
- 8 nm bei 3 kV
- 15 nm bei 1 kV
• Bildaufnahme bis zu 5.120 x 3.840 Bildpunkte
Projekte
-
Bipolarplatten aus Polymernanokompositen
BMWi/AIF;
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