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Stressmesstechnik (Nyatec)
Projektleiter:
Projektbearbeiter:
Jörg Fochtmann,
Alexander Aman
Finanzierung:
Bund;
Forschergruppen:
Das Ziel ist es, ein Messsystem zu entwickeln, durch das mittels eines siliziumbasierten miniaturisierten Prüftabs zuverlässig Messwerte der Federnormalkraft auch aus den aktuell kleinsten Steckverbindergenerationen gewonnen werden können. Das Messsystem soll dabei komfortabel in der Anwendung und somit einfach in bestehende Produktionsanlagen integrierbar sein. Zudem soll ein ausreichendes Miniaturisierungspotential für zukünftige weiter schrumpfende Steckverbindergenerationen erschlossen werden. damit wird der notwendige Miniaturisierungsvorsprung zwischen Analyse- und Funktionselement wieder hergestellt und das aktuell herrschende Prüfvakuum gefüllt.
Anmerkungen
Schlagworte:
MEMS, MID, Mikrosystemtechnik, Packaging, Zuverlässigkeit
MEMS, MID, Mikrosystemtechnik, Packaging, Zuverlässigkeit
Kontakt

Prof. Dr.-Ing. Sören Hirsch
Archiv Forschung
Forscher
Universitätsplatz 2
39106
Magdeburg
Tel.:+49 391 6752392
Fax:+49 391 6712609
soeren.hirsch@ovgu.de
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