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Stressmesstechnik (Nyatec)

Projektbearbeiter:
Jörg Fochtmann, Alexander Aman
Finanzierung:
Bund;
Forschergruppen:
Das Ziel ist es, ein Messsystem zu entwickeln, durch das mittels eines siliziumbasierten miniaturisierten Prüftabs zuverlässig Messwerte der Federnormalkraft auch aus den aktuell kleinsten Steckverbindergenerationen gewonnen werden können. Das Messsystem soll dabei komfortabel in der Anwendung und somit einfach in bestehende Produktionsanlagen integrierbar sein. Zudem soll ein ausreichendes Miniaturisierungspotential für zukünftige weiter schrumpfende Steckverbindergenerationen erschlossen werden. damit wird der notwendige Miniaturisierungsvorsprung zwischen Analyse- und Funktionselement wieder hergestellt und das aktuell herrschende Prüfvakuum gefüllt.

Anmerkungen

Schlagworte:
MEMS, MID, Mikrosystemtechnik, Packaging, Zuverlässigkeit

Kontakt

Prof. Dr.-Ing. Sören Hirsch

Prof. Dr.-Ing. Sören Hirsch

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Forscher

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39106

Magdeburg

Tel.:+49 391 6752392

Fax:+49 391 6712609

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