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FTIR-spektroskopische Untersuchung organischer Halbleiter auf Silizium und Graphit
Projektleiter:
Finanzierung:
Haushalt;
Ziel des Projektes ist die Charakterisierung organischer Halbleiter, insbesondere Pentacen, auf Silizium- (bzw. amorphen Siliziumdioxid-) und Graphitoberflächen. Der Magdeburger Beitrag ist dabei die infrarotsprektroskopischer Analyse der ca. 12 nm dicken, auf die genannten Substrate per PVD aufgewachsenen Schichten.
Geräte im Projekt
Anmerkungen
Schlagworte:
FT IR, FT IR Spektroskopie, Infrarotspektroskopie, MOCVD, Organische Halbleiter, PVD, Pentacen
FT IR, FT IR Spektroskopie, Infrarotspektroskopie, MOCVD, Organische Halbleiter, PVD, Pentacen
Kontakt

Prof. Dr. Helmut Weiß
Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg
Fakultät für Verfahrens- und Systemtechnik
Institut für Chemie
Universitätsplatz 2
39106
Magdeburg
Tel.:+49 391 6758416
Fax:+49 391 6711387
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