Raster-Elektronen-Mikroskopie REM
G16
Universitätsplatz 2
39106 Magdeburg
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Fax:+49 391 6748108
« Infrastruktur: Geräte
Gerätebeschreibung
-HITACHI S-4800 Feldemissions-REM ausgerüstet mit2 SE-Detektoren, YAG-BE-Detektor, TE-Detektor, EDAX-EDX-Detektor-JEOL JSM 5410 mit thermischen Wolfram-Emitter ausgerüstet mit SE-Detektor, Halbleiter-BE-Detektor, EDAX-EDX-Detektor
Projekte
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Mikroskopisches Transportmodell für reale Solarzellenstrukturen: Einfluss struktureller Unordnung und Defekte auf Ladungsträgertransport und -dynamik in CuIn1-xGaxSe2
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG);
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Elektron-Phonon Wechselwirkung in Halbleiter Nanostrukturen
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG);
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Reaktive Sputterabscheidung von nitridischen Halbleiterschichten, RESPUN
BMWi/AIF;
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Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG);
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