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Zur Messung von Oberflächenprofil von homogenen Proben bzw. epitaktischen Schichten steht in dem MSZ ein Oberflächenprofil-Messgerät Tencor P-10 zur Verfügung.
Technische Daten: Substratgröße bis 200 mm Kraft der Diamantspitze 0.05 bis 50 mg Kraft-Auflösung 0.05 mg Scanlänge bis 150 mm Scangeschwindigkeit 1 µm/sec bis 25 mm/sec Sampling Raten 50, 100, 200, 500, 1000 Hz Messbare Stufenhöhe: bei 0.008 Å Auflösung ± 6.5 µm bei 0.8 Å Auflösung ± 65 µm bei 0.6 Å Auflösung ± 1000 µm Horizontale Auflösung 0.01 µm bei Scan-Geschw 1 µm/sec Winkel-Auflösung 0.001°
Mit Hilfe des Gerätes können hochsensitive Messungen von Rauhigkeit, Welligkeit, Stufenhöhe, und anderen Oberflächenparametern durchgeführt werden. Eine Serie von Messungen kann in einer 3D-Topographie dargestellt werden.