NanoWizard 4 AFM System, JPK Instruments
G16
Universitätsplatz 2
39106 Magdeburg
Tel.:+49 391 6758674
Fax:+49 391 6748108
« Infrastruktur: Geräte
Gerätebeschreibung
Fast-Scanning option für Scan-Raten bis 70HzMessungen in Flüssigkeiten und in geschlossener Gasatmosphäre möglich
Messungen in temperaturkontrollierter elektrochemischer Zelle
Elektrische Rastersondenmikroskopie
Projekte
-
Rasterkraftmikroskop mit elektrochemischer Zelle
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG);
-
Reaktive Sputterabscheidung von nitridischen Halbleiterschichten, RESPUN
BMWi/AIF;
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