Labor für Raster-Tunnel-Mikroskopie STM / Raster-Kraft-Mikroskopie AFM
G16
Universitätsplatz 2
39106 Magdeburg
Tel.:+49 391 6758674
Fax:+49 391 6748108
« Infrastruktur: Geräte
Gerätebeschreibung
Das STM-/AFM-Labor ist ausgerüstet mit einem "Rasterscope 4000" der Firma DME- Danish Micro Engineering A/S.Das Gerät ist als "Sample-Scan"-Gerät aufgebaut, d.h. die im Gerät befestigte Probe wird von einem Piezoscanner bewegt (gescannt); das abtastende Bauteil (Cantilever beim AFM, Tunnelspitze beim STM) ruht im Gerät.
Weitere Geräte dieser Struktur
- Computer Server Quanta2
- Computer-Cluster "Quantum"
- Confocal Laser Scanning Microscope
- Conputer-Server Quanta
- ESCA/AES-Multitechnque System zur Oberflächenanalyse
- Einkristall-Röntgendiffraktometer
- Elektrische Rastersondenmikroskopie
- FTIRS (Fourier-Transform-Infrarot-Spektrometer)
- Forschungs-MRT
- GPU18-cluster OVGU
- HPC18
- Hochleistungsrechner "Leonardo"
- Kathodolumineszenzmikroskopie CL/CLI/CLWI
- Kernresonanzspektroskopie
- Linux-Cluster "Tina"
- MOVPE
- NanoWizard 4 AFM System, JPK Instruments
- Oberflächenanalyselabor
- Oberflächenprofiler
- Optische Spektroskopie
- Photolumineszenz / Elektrolumineszenz (PL/EL) Labor
- Präparationslabor
- Pulsed Sputter Epitaxy
- Pulsed laser characterization setup
- Raster-Elektronen-Mikroskopie REM
- Transmission-Elektronen-Mikroskopie TEM
- Workstation-Cluster
- XRD SmartLab µHR (microfocus-high-resolution) Rigaku Europe SE